Lenggoro Lab) サイズ0.1～1.0 μm 粒子の沈着効率が悪い従来法に代わって本手法を気液界面細胞曝露に応用できれば有用である。大気圧下でも（0.1～1.0 μm）粒子沈着と観察分析が可能なため、応用分野も広いと考えられる。The method presented here may potentially be applied for the deposition and analysis of submicron particles on various types of substrate (i.e. air-liquid interface) without the need for vacuum imaging analysis (e.g. electron microscopy).